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JDSU(安科特纳)MTS-6000光时域反射仪

JDSU(安科特纳)MTS-6000光时域反射仪
JDSU(安科特纳)MTS-6000光时域反射仪
MTS-6000是一个结构紧凑的、重量轻的测试平台,设计用于安装与维护光纤网络。它为现场技术人员提供当今市场上最高级别的性能与可升级能力。
MTS-6000 具有模块化的设计,它能够提供广泛的测试功能,具有40多个不同的光纤模块用于各种类型的应用。MTS-6000的多功能性使得技术人员能够采用一种类型的测试设备进行标准化的测试,然后可以引入新的现场测试功能而无需增加成本。

由于MTS-6000 与我们目前现有的光纤模块产品系列兼容,技术人员可以现场在MTS-8000多网络测试仪平台与MTS-6000之间更换插拔模块,无需其它的工具。为了确保您在测试设备上的资金投资获得最高的投资回报率,现有的MTS-5100 的OTDR模块可以(采用扩展)被转化为与MTS-6000 一起使用。
  物超所值
  更高的投资回报率
  更高的灵活性,能够满足未来的测试需求
  无可比拟的速度与功能
  更高的生产率
 
功能特点
结构紧凑,重量轻,高度集成
  已经可以支持40多个应用模块
  有IL/ORL、OTDR、PMD、CD 或WDM 插拔模块选择
  与MTS-5100和MTS-8000的插拔模块兼容
  带有内置的VFL、功率计、LTS与视频检查显示选件,具有全面的连接检查功能
  内置的光话机选件用于使用光纤通话
  话机中的数据模式能够对两个远端单元进行配置、测试与结果采集
  在严酷度、跌落测试、扩展电池寿命等方面超过Telcordia 的技术指标
 
结构紧凑,高度集成
MTS-6000 的多功能性使得它能够解决FTTx/接入网/城域网或者速度为10 Gb/s 与40 Gb/s 的长途/快捷网。
  内置VFL、功率计、LTS、话机/数据以及视频检查显微镜选件(同时)
  在一个模块内具有插入损耗(IL)与光回损(ORL)功能(双向)
  在一个模块内具有光时域反射计(OTDR)与色散(CD)功能
  在一个模块内具有极化模式色散(PMD),波分复用(WDM)与光谱衰减(SA)功能
 
宽范围的测试应用
 对点到点网络执行端到端连接性测试,包括对PON进行分段测试(不带有分束器)
      解决方案:带有1310/1550 nm 波长的MM、SRe、DR 或HD OTDR 模块的MTS-6000
  对PON 的端到端连接性测试,包括分束器性能测试
      解决方案:带有1310/1490/1550 nm波长的VLR OTDR 模块的MTS-6000以及选件VFL、功率计
      与视频检查显微镜
  在线维护与故障查找而不引起业务中断
      解决方案:带有1625 nm 波长OTDR 模块的MTS-6000
  端到端连接性与光纤熔接特性测试
      解决方案:带有1310/1550/1625 nm 波长的HD 或VLR OTDR 模块的MTS-6000以及选件VFL、
      功率计与视频检查显微镜
  端到端连接性与光纤熔接特性测试
      解决方案:带有1310/1550/1625 nm 波长的UHD OTDR 模块的MTS-60001550 nm 波长的动态
      范围为50 dB
  高速传输系统中光纤的损耗/色散特性测试
      解决方案:带有PMD、CD/ODTR 或OFI 模块的MTS-6000
  光纤特性测试并验证其承载多个信道的适用性(水峰)
      解决方案:带有1383 nm 波长的VLR OTDR模块的MTS-6000采用组合的PMD/WDM/SA 模块
  未来所开发的新技术
      解决方案:具有JDSU 新应用模块的MTS-6000
 
应用
JDSU 已经开发出宽范围的现场可替换OTDR 模块,适用于任何网络类型上的任何应用。JDSU提供了30 多个OTDR模块,用于对任意多模或单模网络进行测试与故障查找。MTS-6000 具有JDSU的业界领先的50 dBUHD OTDR 模块。
高性能
JDSU OTDR 模块产品系列是产业内的性能参考。MTS-6000具有新的VLR 以及UHD OTDR 模块,它能够提供:
  业内最好的光学技术指标
  最高的动态范围(1550 nm 波长为50 dB)
  最短的事件盲区(对于VLR模块为80 cm)
  业内最好的数据采样速度

快速而精确的故障查找
快速检测断点/故障
  精确的故障定位
  一键式自动测试
  无需特定的设置
   距离、损耗与ORL 测试
用于端到端开通的理想仪表
需要执行OTDR 双向测试以便获得真正的、精确的熔接损耗读数。JDSU已经开发出一个创新的自动双向分析功能,此功能被直接集成在MTS-6000 平台上,至少比传统的双向分析所需要的时间节约了50%。
  真正的熔接损耗测试
  揭示在一个方向上被盲区所隐藏的事件
  通过采用相同的设置,消除了操作员的错误。
  光纤连接性自动检查
  采用正确的参数立即进行迹线对齐

 

[来源:万隆光电] [作者:万隆光电] [日期:17-10-22] [热度:]  
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